红外光谱测定中的TR与ATR（TENSOR 27）
发布日期：2019-10-28 09:13 浏览次数：
（一）透射法（TR）测试
1.安装透射装置。
2.打开OPUS软件，点击高级测量选项，检查测量参数，选择MIR_TR.XPM。
3.检查信号，保存峰位。
4.在高级测量中输入文件名（即样品名称）和文件存放路径。
5.再在基本测量里输入样品描述和形态。
6.用TR装置，盖上盖子，先测量背景单通道光谱（注意不同样品，应选择适宜的参照物为背景）。
7.再将样品（聚乙烯或聚苯乙烯）模具卡装在样品架上，盖上盖子，测定样品单通道光谱。
8.扫谱结束后，取出压片模具、试样架等，用无水乙醇擦拭干净，置于干燥器中保存。
（二）衰减全反射法（ATR）测试
1.安装衰减全反射装置。
2.打开OPUS软件，点击高级测量选项，检查测量参数，选择MIR_ATR.XPM。
3.检查信号，保存峰位。
4.在高级测量中输入文件名（即样品名称）和文件存放路径。
5.再在基本测量里输入样品描述和形态。
6.用ATR装置件，以空气为背景，先测量背景单通道光谱。
7.再在ATR镜面上放好样品（PE/ PS/无水乙醇/苯甲酸），务必完全盖住镜面，压好压头，测定样品单通道光谱。
8. 扫谱结束后，用干燥棉签擦拭样品台和压头上固体粉末，尽可能擦拭干净，然后再用无水乙醇多次擦拭，直至无样品残留即可。
